集成电路测试中的浴盆曲线反映的是时间与失效率的关系，可分为三个阶段：早期失效期、偶然失效期和损耗失效期，对于其规律的描述不正确的是（）。
A: 偶然失效期是指产品工作一段时间后，失效率很低，且与时间无关
B: 早期失效期指产品刚使用时失效率较高，但会随着时间的增加而迅速下降
C: 耗损失效期是产品使用较长时间后，由于磨损老化等原因引起的失效，随着时间增加失效率会增加
D: 早期失效期因为是集成电路刚刚投入使用，失效率很低，可不必关注
A: 偶然失效期是指产品工作一段时间后，失效率很低，且与时间无关
B: 早期失效期指产品刚使用时失效率较高，但会随着时间的增加而迅速下降
C: 耗损失效期是产品使用较长时间后，由于磨损老化等原因引起的失效，随着时间增加失效率会增加
D: 早期失效期因为是集成电路刚刚投入使用，失效率很低，可不必关注
