方块电阻的测量方法是
A: 四探针法
B: 三探针法
C: 热探针法
D: 光电导衰减法
A: 四探针法
B: 三探针法
C: 热探针法
D: 光电导衰减法
A
举一反三
内容
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下列选项中,能够测试少数载流子寿命的方法是: A: 热探针法 B: 四探针法 C: 光电导衰减法 D: 化学腐蚀法
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下列选项中,能够测试单晶硅棒的电阻率的方法是: A: 热探针法 B: 四探针法 C: 光电导衰减法 D: 化学腐蚀法
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下列选项中,确定单晶硅棒的导电类型的方法是: A: 热探针法 B: 四探针法 C: 光电导衰减法 D: 化学腐蚀法
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单晶硅导电类型测量的方法是: A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 热探针法 D: 光电导衰减法
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扩散分布中方块电阻的主要测量方法是 A: 四探针测量 B: 霍尔测量 C: 染色法测量 D: 二次离子质谱测量