在全自动探针台上进行扎针调试时，若发现探针整体偏移，则对应的处理方式是：( )。
A: 利用摇杆微调扎针位置
B: 相关技术人员手动拨针，使探针移动至相应位置
C: 更换探针测试卡D、调节扎针深度
A: 利用摇杆微调扎针位置
B: 相关技术人员手动拨针，使探针移动至相应位置
C: 更换探针测试卡D、调节扎针深度
举一反三
- 探针卡是晶圆测试重要的材料,对测试结果起到重要作用。当探针卡使用次数过多会影响扎针测试结果。过多使用探针卡的表现有( )。 A: 探针针尖过短 B: 探针针尖变粗 C: 探针针尖变细 D: 探针针尖断裂
- 122.探针卡是晶圆测试重要的材料，对测试结果起到重要作用。当探针卡使用次数过多会影响[br][/br]扎针测试结果。过多使用探针卡的表现有（）。 A: 探针针尖过短 B: 探针针尖变粗 C: 探针针尖变细 D: 探针针尖断裂
- 在全自动探针台上进行扎针测试时,需要根据晶圆测试随件单在探针台输入界面上输入的信息有( )。 A: 晶圆产品名称 B: 晶圆印章批号 C: 晶圆片号 D: 晶圆尺寸
- 118.在全自动探针台上进行扎针测试时，需要根据晶圆测试随件单在探针台输入界面上输入的[br][/br]信息有（）。 A: 晶圆产品名称 B: 晶圆印章批号 C: 晶圆片号 D: 晶圆尺寸
- 晶圆进行扎针测试时,测试机将测试结果通过( )传输给探针台。 A: USD B: GPIB C: HDMI D: VGA