方块电阻的测量方法是 A: 四探针法 B: 热探针法 C: 磨角染色法 D: 滚槽法

结深的测量方法有 A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 范德堡法 D: 四探针法

扩散结深的测量方法 A: 磨角法 B: 滚槽法 C: 四探针法 D: 热探针法

以下方法中不属于结深测量方法的是: A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 阳极氧化法 D: 四探针法

单晶硅导电类型测量的方法是: A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 热探针法 D: 光电导衰减法

外延层薄膜厚度测试方法是： 。 A: 层错法 B: 四探针法 C: 磨角法 D: 滚槽法

常用于测量外延层的厚度的方法是: A: 磨角染色法 B: 滚槽法 C: 范德堡法 D: 层错法