（ ）用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主。
A: TEM
B: SEM
C: 电子探针EPMA
D: XRD
A: TEM
B: SEM
C: 电子探针EPMA
D: XRD
举一反三
- XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。
- 电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（ ）
- FTIR和XRD均可用于物质组成确定，其中FTIR和XRD分别属于何种分析方法？ A: FTIR：成分分析XRD：成分分析 B: FTIR：成分分析XRD：物相分析 C: FTIR：物相分析XRD：物相分析 D: FTIR：物相分析XRD：成分分析
- 扫描电镜与电子探针结合可实现对试样的 ( ) A: 形貌.成分和结构的综合分析 B: 成分和结构的综合分析 C: 形貌和结构的综合分析 D: 成分和形貌的综合分析
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM