对于产品控制，测量系统的变差必须比（）小。
A: 制造过程变差
B: 规范限值的中间值
C: 量具和量具之间的变差
D: 规范限值
A: 制造过程变差
B: 规范限值的中间值
C: 量具和量具之间的变差
D: 规范限值
举一反三
- 对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
- 测量系统的变差应：（） A: 当与规范限值或过程变差相比时偏小 B: 少于10% C: 与零件变差相比时偏大 D: 通过认可的实验室评定或被顾客批准
- 测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。 A: 测量人员的变差 B: 测量结果的变差 C: 测量仪器自身的变差 D: 测量过程的变差
- 再现性也称为（） A: 评价者变差 B: 稳定性 C: 设备变差 D: 量具的重复性和再现性（GRR）
- 低水平的数据的一般原因之一是：（） A: 用一个重复性的方法很难测量的环境一致性 B: 制造过程变差 C: 产品之间的变差 D: 测量系统和环境之间相互作用