测量系统的变差应：（）
A: 当与规范限值或过程变差相比时偏小
B: 少于10%
C: 与零件变差相比时偏大
D: 通过认可的实验室评定或被顾客批准
A: 当与规范限值或过程变差相比时偏小
B: 少于10%
C: 与零件变差相比时偏大
D: 通过认可的实验室评定或被顾客批准
举一反三
- 对于产品控制，测量系统的变差必须比（）小。 A: 制造过程变差 B: 规范限值的中间值 C: 量具和量具之间的变差 D: 规范限值
- 对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。
- 测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。 A: 测量人员的变差 B: 测量结果的变差 C: 测量仪器自身的变差 D: 测量过程的变差
- 以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。 A: 零件的变差 B: 测量人内部变差 C: 测量仪器的变差 D: 测量环境导致的变差
- 测量系统变差被（）影响。 A: 自由度和变差的可归属来源assignable B: 只是人和设备的变差来源 C: 制造设备的过度调整 D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分