不需要真空系统的是（）
A: TEM
B: XRD
C: SEM
D: MS
A: TEM
B: XRD
C: SEM
D: MS
举一反三
- （ ）用于成分分析、形貌观察，以成分分析为主。 A: TEM B: SEM C: 电子探针EPMA D: XRD
- 表征纳米粒子的方法很多，其中通过XRD、SEM、TEM可得到样品哪些方面的信息？
- 下例哪一项表征测试技术是通过二次电子和背散射电子作用的（ ） A: TEM B: SEM C: XRD D: XPS
- XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、（）、（）、电子探针分析和差热分析分析方法。
- 表面形貌分析的手段包括（） A: X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） B: SEM和透射电镜（TEM） C: 波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS） D: 扫描隧道显微镜（STM）和SEM