关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 关注微信公众号《课帮忙》查题 公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！公告：维护QQ群：833371870，欢迎加入！ 2022-10-28 (20868)()双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。（） (20868)()双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。（） 答案： 查看 举一反三 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。 提高探头频率，减少晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力。 提高探头频率，减小晶片尺寸不可以提高近表面缺陷的探测能力 超声波检测中，通常锻件和钢板的探测用直探头，焊缝及热影响区的探测用斜探头，近表面缺陷的探测用双晶探头。 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
