双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
正确
举一反三
内容
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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
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12.以下()说法是正确的。 A: 纵波直探头主要用于检测与检测面垂直或成一定角度的缺陷 B: 横波斜探头主要用于检测与检测面垂直或成一定角度的缺陷 C: 双晶探头主要用于检测表面或近表面的缺陷 D: 表面波探头主要用于检测近表面缺陷
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（ ）探头用于发射和接收纵波，主要用于探测与探测面平行的缺陷。 A: 双晶 B: 单晶 C: 直 D: 斜
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选择较小尺寸的探头晶片探伤（）。
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接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（） A: 联合双探头 B: 普通直探头 C: 表面波探头 D: 横波斜探头