和所有过程类似，测量系统的变差来源都是因为：（）
A: 确定和不确定度
B: 仅变差的人力和仪器来源
C: 普通原因和特殊原因
D: 制造设备的过分调整
A: 确定和不确定度
B: 仅变差的人力和仪器来源
C: 普通原因和特殊原因
D: 制造设备的过分调整
举一反三
- 测量系统变差被（）影响。 A: 自由度和变差的可归属来源assignable B: 只是人和设备的变差来源 C: 制造设备的过度调整 D: 仅仅是变差的特殊原因，是测量系统变差的一部分
- 测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。 A: 测量人员的变差 B: 测量结果的变差 C: 测量仪器自身的变差 D: 测量过程的变差
- 变差的普通原因指的是过程中有多种的变差来源，而这些变差（） A: 造成可预估结果 B: 可通过选择正确的测量系统而完全消除 C: 可以是在控制范围之外的点 D: 并不总是在过程上运行
- 以下哪种原因可能导致测量结果的变差（）。 A: 零件的变差 B: 测量人内部变差 C: 测量仪器的变差 D: 测量环境导致的变差
- 普通原因变差指的是在一个过程内许多变差的来源，（） A: 产生一个稳定的和可重复的结果 B: 产生一个可预测的过程 C: 是随机的 D: 上述都对