晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使得在刻蚀多晶硅电极时对它的刻蚀要尽可能的小。 A: n型掺杂区 B: P型掺杂区 C: 栅氧化层 D: 场氧化层
晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使得在刻蚀多晶硅电极时对它的刻蚀要尽可能的小。 A: n型掺杂区 B: P型掺杂区 C: 栅氧化层 D: 场氧化层
晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使得在刻蚀多晶硅电极时对它的刻蚀要尽可能的小。 A: An型掺杂区 B: BP型掺杂区 C: C栅氧化层 D: D场氧化层
晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使得在刻蚀多晶硅电极时对它的刻蚀要尽可能的小。 A: An型掺杂区 B: BP型掺杂区 C: C栅氧化层 D: D场氧化层
二氧化硅层中对器件稳定性影响最大的Na+属于( ).zz A: 界面陷阱电荷 B: 氧化层中固定电荷 C: 氧化层中可动电荷 D: 氧化层中陷阱电荷
二氧化硅层中对器件稳定性影响最大的Na+属于( ).zz A: 界面陷阱电荷 B: 氧化层中固定电荷 C: 氧化层中可动电荷 D: 氧化层中陷阱电荷
氧化速率随着氧化层厚度的增加(氧化时间的增加)而下降。
氧化速率随着氧化层厚度的增加(氧化时间的增加)而下降。
铝的阳极氧化氧化膜的生成包括两个同时进行的过程,一个是()过程,形成氧化膜,另一个是()过程。氧化膜的结构包括()层和()层。
铝的阳极氧化氧化膜的生成包括两个同时进行的过程,一个是()过程,形成氧化膜,另一个是()过程。氧化膜的结构包括()层和()层。
对MIS电容有明显影响的是 A: 界面陷阱电荷 Qit B: 氧化层中固定电荷 Qf C: 氧化层中可动电荷 Qm D: 氧化层中陷阱电荷 Qot
对MIS电容有明显影响的是 A: 界面陷阱电荷 Qit B: 氧化层中固定电荷 Qf C: 氧化层中可动电荷 Qm D: 氧化层中陷阱电荷 Qot
Si/SiO2系统中常见的四种电荷态,那种最影响亚阈值摆幅? A: 界面陷阱电荷 B: 氧化层固定电荷 C: 氧化层可动电荷 D: 氧化层辐照缺陷
Si/SiO2系统中常见的四种电荷态,那种最影响亚阈值摆幅? A: 界面陷阱电荷 B: 氧化层固定电荷 C: 氧化层可动电荷 D: 氧化层辐照缺陷
氧化层高度应控制在多少?
氧化层高度应控制在多少?
玉的氧化层比碳化层的年代要久远。
玉的氧化层比碳化层的年代要久远。
氧化速率随着氧化层厚度的增加(氧化时间的增加)而下降。 A: 正确 B: 错误
氧化速率随着氧化层厚度的增加(氧化时间的增加)而下降。 A: 正确 B: 错误