理想MOS结构的定义包括
A: 金属和半导体的功函数差为零
B: Si-SiO2系统不存在表面态电荷
C: 氧化膜电阻无穷大，没有电流通过
D: 衬底是P型半导体
A: 金属和半导体的功函数差为零
B: Si-SiO2系统不存在表面态电荷
C: 氧化膜电阻无穷大，没有电流通过
D: 衬底是P型半导体
举一反三
- 已知一个MOS结构，若不考虑金属—半导体之间的功函数差及有效表面态电荷的影响，其阈值电压为1V，若考虑金属—半导体之间的功函数差及有效表面态电荷的影响，其阈值电压为-1V，则 A: 该结构衬底为P型硅，是增强型MOS结构 B: 该结构衬底为N型硅，是增强型MOS结构 C: 该结构衬底为P型硅，是耗尽型MOS结构 D: 该结构衬底为N型硅，是耗尽型MOS结构
- 理想的MOS结构不需要考虑金属-半导体功函数差和有效表面态电荷的影响
- 理想的MOS结构不需要考虑金属-半导体功函数差和有效表面态电荷的影响 A: 正确 B: 错误
- 理想MOS结构是( )。 A: 金半功函数差为零 B: 栅氧化层内有效电荷密度不为零 C: 栅氧化层与半导体界面处存在界面态 D: 无法确定
- 已知一个MOS结构，若不考虑金属—半导体之间的功函数差及有效表面态电荷的影响，其阈值电压为1V，若考虑金属—半导体之间的功函数差及有效表面态电荷的影响，其阈值电压为-1V，则 A: 这是P沟增强型MOS管 B: 这是N沟增强型MOS管 C: 这是P沟耗尽型MOS管 D: 这是N沟耗尽型MOS管